Aktuell
Das TDEMI® ULTRA von GAUSS INSTRUMENTS®, welches im Frequenzbereich von DC - 40 GHz verfügbar ist, kann nun zusätzlich mit externen Mischern bis in den Terahertz-Bereich erweitert werden. Die Vorteile der hohen Echtzeitbandbreite sowie der einzigartig schnellen Messung besteht über den gesamten Frequenzbereich, auch beim Einsatz im erweiterten Frequenzbereich oberhalb 40 GHz mittels externer Mischer.
Die Messempfänger TDEMI® von GAUSS INSTRUMENTS® mit einer hohen CISPR-konformen Echtzeitbandbreite erlauben es Messungen erheblich zu beschleunigen und die Messunsicherheit signifikant zu reduzieren. Durch den zusätzlichen Einsatz der Automatisierungssoftware EMI64k von GAUSS INSTRUMENTS® können die Prüfverfahren gemäß CISPR 16-2-3 für das FFT-basierende Messgerät gestaltet werden. Im Gegensatz zur alten pre- und final Scan Strategie wird damit die Prüfqualität deutlich erhöht und die Testzeiten deutlich reduziert.
Der neue Messempfänger TDEMI ULTRA von GAUSS INSTRUMENTS mit bis zu 685 MHz Echtzeitbandbreite, ultra schnellem Receiver Scanning sowie Multi GHz Echtzeit Scanning bis 40 GHz ist nicht nur der bis dato schnellste am Markt verfügbare Messempfänger, sondern ist durch sein kompaktes Design sowie einer 12V Versorgung universell und mobil einsetzbar.
Durch die zunehmende Bedeutung neuartiger Technologien werden vernetztes Wohnen, autonomes Fahren und Internet der Dinge zum ständigen Begleiter in unserem Alltag. Das Vernetzen von Elektrogeräten aller Art erfordert damit auch einen zusätzlichen und erweiterten Prüfaufwand. Meist reicht es deshalb nicht mehr aus, dass z. B. Haushaltsgeräte betreffend ihrer elektromagnetischen Emissionen lediglich nach EN55014 geprüft werden.
Messungen der Störfeldstärke werden im Frequenzbereich 1 GHz – 40 GHz in einer Absorberhalle oder auf einem Freifeldmessplatz (engl. open area test site) durchgeführt. Diese Messungen sind bisher äußerst zeitaufwendig, da bei allen Abstrahlrichtungen des Prüflings sowie über mehrere Höhen der Antenne die maximale Emission gefunden werden muss. Stark gerichtete Abstrahleigenschaften von Prüflingen oberhalb 1 GHz führen dazu, dass die Messung üblicherweise mit sehr kleinen Schritten des Drehtischs stattfinden sollte. Um Zeit zu sparen wird deshalb meist eine schnellere Vor- und anschließende Nachmessung durchgeführt um den Aufwand zu begrenzen. Bei der Vormessung, welche lediglich eine schnelle Übersichtsmessung darstellt, wird versucht einzelne Frequenzen zu lokalisieren, bei welchen die Emissionen einen kritischen Pegel erreichen. Bei der Nachmessung wird anschließend an diesen kritischen Frequenzpunkten im sog. Single Frequency Modus mit längerer Verweildauer nachgemessen und maximiert.